Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/6470
Назва: Порівняльний аналіз оптичних методів вимірювання розмірів мікрочастинок
Автори: Бобицький, Ярослав
Клімкевич, Роман
Бібліографічний опис: Бобицький Я. Порівняльний аналіз оптичних методів вимірювання розмірів мікрочастинок / Бобицький Ярослав, Клімкевич Роман // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор Б. І. Стадник. – Львів : Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2007. – Випуск 67. – С. 48–55 – Бібліографія: 31 назва.
Дата публікації: 2007
Видавництво: Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”
Короткий огляд (реферат): Зважаючи на бурхливий розвиток нанотехнології у різних галузях промисловості і на те, що від розміру частинки значною мірою залежать основні фізичні властивості матеріалу, сьогодні існує потреба у точному, швидкому і неруйнівному методі вимірювання розмірів частинок. Саме оптичні методи вимірювання відповідають усім цим вимогам. Тому подаємо порівняльний аналіз основних оптичних методів, визначення їхніх переваг та недоліків і можливостей застосування у різноманітних системах мікро- та наночастинок. Из-за быстрого развития нанотехнологий в разных областях промышленности и учитывая то, что от размера частиц в значительной мере зависят основные физические свойства материала, сегодня существует необходимость в точном, быстром и неразрушающем методе измерения размеров частиц. Именно оптические методы измерения соответствуют всем этим требованиям. Поэтому представлено сравнительный анализ основных оптических методов, указано на их преимущества и недостатки и возможности применения в различных системах микро- и наночастиц. Due to the rapid development of the nanotechnologies in different fields of industry, and taking into consideration that main physical properties of the material depend a lot on particle size, today there is a need in precise, fast and nondestructive method for particles size measurements. Optical measuring methods meet all this requirements. Therefore this article presents comparison analysis of the basic optical methods, indicates their advantages and limitations and the possibility of their application in different micro- and nanoparticle systems.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/6470
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Вимірювальна техніка та метрологія. – 2007. – Випуск 67

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
09.pdf164,37 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.