Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/5670
Назва: High-pressure x-ray diffraction techniques: application to determination of the equation of state of selected multicomponent oxides
Автори: Paszkowicz, Wojciech
Бібліографічний опис: Paszkowicz W. High-pressure x-ray diffraction techniques: application to determination of the equation of state of selected multicomponent oxides / W. Paszkowicz // Oxide materials for electronic engineering – fabrication, properties and application OMEE-2009 : international scientific workshop, June 22–26, 2009, Lviv, Ukraine : book of abstracts / Lviv Polytechnic National University. – Lviv, 2009. – P. 60.
Дата публікації: 2009
Видавництво: Видавництво національного університету „Львівська політехніка”
Теми: Nobel laureate
fulfill specific
X-ray
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/5670
Тип вмісту : article
Розташовується у зібраннях:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування. – 2009 р.

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
28.pdf19,81 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.