Please use this identifier to cite or link to this item: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/55962
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.date.accessioned2021-01-21T08:54:37Z-
dc.date.available2021-01-21T08:54:37Z-
dc.date.created2020-02-24
dc.date.issued2020-02-24
dc.identifier.citationContent // Measuring Equipment and Metrology. — Lviv : Lviv Politechnic Publishing House, 2020. — Vol 81. — No 2. — P. 43–44.
dc.identifier.urihttp://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/55962-
dc.format.extent43-44
dc.language.isoen
dc.publisherВидавництво Львівської політехніки
dc.publisherLviv Politechnic Publishing House
dc.relation.ispartofВимірювальна техніка та метрологія, 2 (81), 2020
dc.relation.ispartofMeasuring Equipment and Metrology, 2 (81), 2020
dc.titleContent
dc.typeArticle
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2020
dc.format.pages2
dc.identifier.citationenContent // Measuring Equipment and Metrology. — Lviv : Lviv Politechnic Publishing House, 2020. — Vol 81. — No 2. — P. 43–44.
dc.citation.journalTitleВимірювальна техніка та метрологія
dc.citation.issue2
dc.citation.spage43
dc.citation.epage44
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
Appears in Collections:Вимірювальна техніка та метрологія. – 2020. – Випуск 81, №2

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2020v81n2_Content_43-44.pdf116,19 kBAdobe PDFView/Open
2020v81n2_Content_43-44__COVER.png172,87 kBimage/pngView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.