Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/5564
Назва: Structure evolution of La2-xSrx(Cu,Ni)O4 assessed by the rietveld method
Автори: Minikayev, R.
Malinowski, A.
Bezusyy, V.
Paszkowicz, W.
Cieplak, M.
Бібліографічний опис: Structure evolution of La2-xSrx(Cu,Ni)O4 assessed by the rietveld method / R. Minikayev, A. Malinowski, V. Bezusyy, W. Paszkowicz, M. Cieplak // Oxide materials for electronic engineering – fabrication, properties and application OMEE-2009 : international scientific workshop, June 22–26, 2009, Lviv, Ukraine : book of abstracts / Lviv Polytechnic National University. – Lviv, 2009. – P. 71.
Дата публікації: 2009
Видавництво: Видавництво національного університету „Львівська політехніка”
Теми: LSCO
La2-xSrxCuO4
X-ray
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/5564
Тип вмісту : article
Розташовується у зібраннях:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування. – 2009 р.

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
39.pdf41,73 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.