Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/5287
Назва: Trace impurities, intrinsic and radiation defects in oxide materials
Автори: Grachev, V.
Malovichko, G.
Jorgensen, J.
Meyer, M.
Pankratov, V.
Burak, Ya.
Hunt, A.
Бібліографічний опис: Trace impurities, intrinsic and radiation defects in oxide materials / V. Grachev, G. Malovichko, J. Jorgensen, M. Meyer, V. Pankratov, Ya. Burak, A. Hunt // Oxide materials for electronic engineering – fabrication, properties and application OMEE-2009 : international scientific workshop, June 22–26, 2009, Lviv, Ukraine : book of abstracts / Lviv Polytechnic National University. – Lviv, 2009. – P. 113.
Дата публікації: 2009
Видавництво: Видавництво національного університету “Львівська політехніка”
Теми: Electron Paramagnetic Resonance (EPR)
NASA
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/5287
Тип вмісту : article
Розташовується у зібраннях:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування. – 2009 р.

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
73.pdf38,54 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.