Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/4610
Назва: Двофункційна багатоканальна система вимірювання деформації на основі ниткоподібних кристалів si1-xgex для кріогенних температур
Автори: Вуйцик, А. М.
Ховерко, Ю. М.
Дружинін, А. О.
Бібліографічний опис: Вуйцик А. М. Двофункційна багатоканальна система вимірювання деформації на основі ниткоподібних кристалів si1-xgex для кріогенних температур / А. М. Вуйцик, Ю. М. Ховерко, А. О. Дружинін // Тринадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету «Львівська політехніка» з проблем електроніки : тези доповідей, 13–15 квітня 2010 року / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2010. – С. 20.
Дата публікації: 2010
Видавництво: Видавництво Національного університету "Львівська політехніка"
Теми: сенсор
система
деформація
тензорезистор
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/4610
Тип вмісту : Technical Report
Розташовується у зібраннях:Тринадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки. – 2010 р.

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
16.pdf90,72 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.