Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/42627
Назва: Aspects of EMC- Evaluation of LIN- Transceivers
Автори: Körber, B.
Sperling, D.
Kalita, W.
Sabat, W.
Приналежність: FTZ e.V. an der Westsächsischen Hochschule Zwickau (FH), University of Applied Sciences, Zwickau
Rzeszów University of Technology
Бібліографічний опис: Aspects of EMC- Evaluation of LIN- Transceivers / B. Körber, D. Sperling, W. Kalita, W. Sabat // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2002. – № 458 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – С. 286–289. – Bibliography: 4 titles.
Конференція/захід: Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки
Дата публікації: 2002
Видавництво: Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»
Країна (код): UA
Місце видання, проведення: Львів
Кількість сторінок: 286–289
Короткий огляд (реферат): With this paper a proposal for EMC- Evaluation of LIN (Line Integrated Network)-Transceiver is presented. It is based on EMC- standards for semiconductors and automotive applications and can be applied to Stand Alone LIN Transceiver and Embedded Systems with an on chip LIN Transceiver (Automotive System Basis Chips). At this time there are positive experiences by using this evaluation proposal on LIN Transceivers from different manufactures and samples in the last two years. It can be shown, that the results of the measurements have a very good reproducibility. The proposal for EMC- Evaluation of LIN- Transceivers is based on the same procedure as EMC- Evaluation of CAN – Transceivers, witch is successful implemented in Transceiver evaluation for automotive applications and has a correlation to vehicle measurements.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/42627
Перелік літератури: [1] DIN - IEC 62132 Integrierte Schaltungen – Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit. [2] IC IEC 61967, Integrated circuits- Measurement of Electromagnetic Emissions. [3] EN 61000-4-2, Electrostatic Discharge Testing [4] Pfaff W., Scheider G., Störfestigkeitsprüfungen von Halbleiterschaltkreisen. EMC Kompedium 2000.
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2002. – №458

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
55_286-289.pdf221,69 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.