Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/24076
Назва: Закономірності окиснення твердого розчину Pb0,8Sn0,2Te
Інші назви: Oxidation specifics solid solution Pb0,8Sn0,2Te
Автори: Берченко, М. М.
Фадєєв, С. В.
Нікіфоров, О. Ю.
Бібліографічний опис: Берченко М. М. Закономірності окиснення твердого розчину Pb0,8Sn0,2Te / М. М. Берченко, С. В. Фадєєв, О. Ю. Нікіфоров // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2010. – № 681 : Електроніка. – С. 61–66. – Бібліографія: 5 назв.
Дата публікації: 2010
Видавництво: Видавництво Львівської політехніки
Теми: IV–VI напівпровідникові сполуки
діаграми фазової рівноваги
окиснення
межа розділу власний діелектрик – напівпровідник
рентгенівська дифракція
IV–VI semiconductor compounds
Equilibrium phase diagrams
Oxidation
Native dielectric–compound semiconductor interface
X-ray diffraction
Короткий огляд (реферат): Для оцінки хімічного складу власного оксиду твердого розчину на основі халькогенідів Pb1-хSnхTe (х=0;0,2;1) застосовано метод діаграм фазових рівноваг. Дослідження проводили за методом рентгеноструктурного аналізу термічно окиснених зразків. Результати досліджень добре узгоджуються з діаграмами фазових рівноваг. Основними сполуками, що утворюються під час окиснення твердого розчину Pb0.8Sn0.2Te є PbTeO3, SnO2, PbSnO3 та Pb2SnO4. To evaluate the chemical composition of its own oxide solid solution based on chalcogenides Pb1-хSnхTe (x= 0; 0,2;1) applied the method of phase equilibrium diagrams. Research conducted by X-ray analysis of samples that were thermal oxidation. Research results agree well with the predicted phase equilibrium diagram. The main compounds formed during oxidation of solid solution Pb0.8Sn0.2Te is PbTeO3, SnO2, PbSnO3 and Pb2SnO4.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/24076
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Електроніка. – 2010. – №681

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
10-61-66.pdf236,39 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.