Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/23554
Назва: Point defects and physico-chemical properties of crystals in Pb-Bi-Te system
Інші назви: Точкові дефекти та фізико-хімічні властивості кристалів у системі Pb-BI-Te
Автори: Freik, Dmytro
Turovska, Liliya
Бібліографічний опис: Freik D. Point defects and physico-chemical properties of crystals in Pb-Bi-Te system / Dmytro Freik, Liliya Turovska // Chemistry & Chemical Technology. – 2013. – Volume 7, number 4. – P. 375–380. – Bibliography: 14 titles.
Дата публікації: 2013
Видавництво: Publishing House of Lviv Polytechnic National University
Теми: lead telluride
doping
solid solution
point defects
crystalquasichemical formula
defect formation
плюмбум телурид
легування
твердий розчин
точковий дефект
кристалоквазіхімічна формула
дефектоутворення
Короткий огляд (реферат): Within crystalquasichemical formalism models of point defects of crystals in the Pb-Bi-Te system have been specified considering the amphoteric action of impurities in bismuth doped lead telluride PbTe:Bi, and solid solution formation mechanisms for РbТе-ВіТе and РbТе-Ві2Те3 have been examined.Dependences of Hall concentration and the concentration of point defects on the composition and the initial deviation from stoichiometry in the basic matrix have been calculated. У рамках кристалоквазіхімічного формалізму уточнено моделі точкових дефектів кристалів у системі Pb-Ві-Te з урахуванням амфотерної дії домішки в легованому вісмутом плюмбум телуриді PbTe:Bi та розглянуто механізми утворення твердих розчинів РbТе-ВіТе і РbТе-Ві2Те3. Розраховано залежності холлівської концентрації та концентрації точкових дефектів від складу і початкового відхилення від стехіометрії в основній матриці.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/23554
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Chemistry & Chemical Technology. – 2013. – Vol. 7, No. 4

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
4-375-380.pdf470,56 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.