Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/23316
Назва: Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS
Автори: Совин, Я. Р.
Наконечний, Ю. М.
Стахів, М. Ю.
Бібліографічний опис: Совин Я. Р. Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, М. Ю. Стахів // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2013. – № 753 : Автоматика, вимірювання та керування. – C. 37–44. – Бібліографія: 10 назв.
Дата публікації: 2013
Видавництво: Видавництво Львівської політехніки
Теми: генератори випадкових чисел
тести NIST STS
STM32F4xx
random number generators
NIST STS tests
STM32F4xx
Короткий огляд (реферат): Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтро- лерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS за різних значень тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of microcontroller’s hardware random number generator of family STM32F4XX with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS at the different values of clock rate. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators in cryptographic applications.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/23316
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Автоматика, вимірювання та керування. – 2013. – №753

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
8-37-44.pdf344,36 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.