Please use this identifier to cite or link to this item: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/23201
Title: Оцінювання випадкових похибок вимірювальних генераторів напівпровідникових резонансних сенсорів
Authors: Рак, Володимир
Байцар, Роман
Bibliographic description (Ukraine): Рак В. Оцінювання випадкових похибок вимірювальних генераторів напівпровідникових резонансних сенсорів / Володимир Рак, Роман Байцар // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор Б. І. Стадник. – Львів : Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2005. – Випуск 65. – C. 20–23. – Бібліографія: 7 назв.
Issue Date: 2005
Publisher: Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”
Abstract: Проаналізовано вплив шумів електронної схеми підсилення та випадкових коливань температури на вихідну частоту вимірювального генератора напівпровідникового резонансного сенсора. Визначені випадкові похибки частоти генератора при дії дестабілізуючих факторів. Проанализировано влияние шумов электронной схемы и случайных колебаний температуры на выходную частоту измерительного генератора полупроводникового резонансного сенсора. Определены случайные погрешности частоты генератора при действии дестабилизирующих факторов. Influence noises of electronic circuit of amplification and random variations of temperature on the output frequency of measuring generator for semiconductor resonance sensors are considered in this article. Random errors of frequency of generator by action destabilizing factors are defined.
URI: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/23201
Content type: Article
Appears in Collections:Вимірювальна техніка та метрологія. – 2005. – Випуск 65

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
5-Rak-20-23.pdf222,96 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.