Please use this identifier to cite or link to this item: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/22444
Title: Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring
Authors: Bobalo, Yuriy
Nedostup, Leonid
Kiselychnyk, Myroslav
Melen, Myhaylo
Bibliographic description (Ukraine): Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring / Yuriy Bobalo, Leonid Nedostup, Myroslav Kiselychnyk, Myhaylo Melen // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 53. – Bibliography: 3 titles.
Issue Date: 2011
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Keywords: production of electronic devices
modeling
defectiveness
reliability
Abstract: This work is devoted to modeling and optimization of radio-electronic devices production processes to ensure the desired reliability.
URI: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/22444
Content type: Article
Appears in Collections:Обчислювальні проблеми електротехніки (CPEE’2011) – 2011 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
45-Bobalo-53.pdf196,56 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.