Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/22444
Назва: Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring
Автори: Bobalo, Yuriy
Nedostup, Leonid
Kiselychnyk, Myroslav
Melen, Myhaylo
Бібліографічний опис: Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring / Yuriy Bobalo, Leonid Nedostup, Myroslav Kiselychnyk, Myhaylo Melen // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 53. – Bibliography: 3 titles.
Дата публікації: 2011
Видавництво: Видавництво Львівської політехніки
Теми: production of electronic devices
modeling
defectiveness
reliability
Короткий огляд (реферат): This work is devoted to modeling and optimization of radio-electronic devices production processes to ensure the desired reliability.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/22444
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Обчислювальні проблеми електротехніки (CPEE’2011) – 2011 р.

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
45-Bobalo-53.pdf196,56 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.