Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20203
Назва: Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS
Автори: Совин, Я. Р.
Наконечний, Ю. М.
Чінка, В. М.
Тишик, І. Я.
Бібліографічний опис: Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, В. М. Чінка, І. Я. Тишик // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2012. – № 745 : Комп’ютерні системи та мережі. – С. 168–175. – Бібліографія: 10 назв.
Дата публікації: 2012
Видавництво: Видавництво Львівської політехніки
Теми: генератори випадкових чисел
тести NIST STS
STM32F4xx
random number generators
NIST STS tests
Короткий огляд (реферат): Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of hardware random number generator of microcontrollers STM32F4XX family with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators for cryptographic applications.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20203
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Комп'ютерні системи та мережі. – 2012. – №745

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
27-168-175.pdf330,64 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.