Please use this identifier to cite or link to this item: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20118
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГумінілович, Руслана-
dc.contributor.authorШаповал, Павло-
dc.contributor.authorЯтчишин, Йосип-
dc.contributor.authorКусьнеж, Віктор-
dc.date.accessioned2013-06-26T14:34:17Z-
dc.date.available2013-06-26T14:34:17Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.citationВизначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії / Руслана Гумінілович, Павло Шаповал, Йосип Ятчишин, Віктор Кусьнеж // Хімія та хімічні технології : матеріали ІI Міжнародної конференції молодих вчених CCT-2011, 24–26 листопада 2011 року, Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 188–189. – (3-й Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Бібліографія: 3 назви.uk_UA
dc.identifier.urihttp://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20118-
dc.description.abstractРозроблена проста й швидка методика визначення товщини напівпровідникових тонких плівок кадмій сульфіду з використанням методу інверсійної вольтамперометрії. Отримані результати мають добру сходимість з результатами еліпсометричних вимірювань, які є загальноприйнятими длятакого виду досліджень.uk_UA
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectтонкі плівкиuk_UA
dc.subjectхімічне осадженняuk_UA
dc.subjectінверсійна вольтамперометріяuk_UA
dc.titleВизначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометріїuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Хімія та хімічні технології (CCT-2011). – 2011 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
78-188-189.pdf239,7 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.