Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20118
Название: Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії
Авторы: Гумінілович, Руслана
Шаповал, Павло
Ятчишин, Йосип
Кусьнеж, Віктор
Библиографическое описание: Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії / Руслана Гумінілович, Павло Шаповал, Йосип Ятчишин, Віктор Кусьнеж // Хімія та хімічні технології : матеріали ІI Міжнародної конференції молодих вчених CCT-2011, 24–26 листопада 2011 року, Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 188–189. – (3-й Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Бібліографія: 3 назви.
Дата публикации: 2011
Издательство: Видавництво Львівської політехніки
Ключевые слова: тонкі плівки
хімічне осадження
інверсійна вольтамперометрія
Краткий осмотр (реферат): Розроблена проста й швидка методика визначення товщини напівпровідникових тонких плівок кадмій сульфіду з використанням методу інверсійної вольтамперометрії. Отримані результати мають добру сходимість з результатами еліпсометричних вимірювань, які є загальноприйнятими длятакого виду досліджень.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20118
Тип содержания: Article
Располагается в коллекциях:Хімія та хімічні технології (CCT-2011). – 2011 р.

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
78-188-189.pdf239,7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.