Link lub cytat. http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20118
Tytuł: Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії
Authors: Гумінілович, Руслана
Шаповал, Павло
Ятчишин, Йосип
Кусьнеж, Віктор
Cytat: Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії / Руслана Гумінілович, Павло Шаповал, Йосип Ятчишин, Віктор Кусьнеж // Хімія та хімічні технології : матеріали ІI Міжнародної конференції молодих вчених CCT-2011, 24–26 листопада 2011 року, Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 188–189. – (3-й Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Бібліографія: 3 назви.
Data wydania: 2011
Wydawca: Видавництво Львівської політехніки
Słowa kluczowe: тонкі плівки
хімічне осадження
інверсійна вольтамперометрія
Abstract: Розроблена проста й швидка методика визначення товщини напівпровідникових тонких плівок кадмій сульфіду з використанням методу інверсійної вольтамперометрії. Отримані результати мають добру сходимість з результатами еліпсометричних вимірювань, які є загальноприйнятими длятакого виду досліджень.
URI: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20118
Typ zawartości: Article
Występuje w kolekcjach:Хімія та хімічні технології (CCT-2011). – 2011 р.

Pliki tej pozycji:
Plik Opis WielkośćFormat 
78-188-189.pdf239,7 kBAdobe PDFPrzeglądanie/Otwarcie


Pozycje DSpace są chronione prawami autorskimi