Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20118
Назва: Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії
Автори: Гумінілович, Руслана
Шаповал, Павло
Ятчишин, Йосип
Кусьнеж, Віктор
Бібліографічний опис: Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії / Руслана Гумінілович, Павло Шаповал, Йосип Ятчишин, Віктор Кусьнеж // Хімія та хімічні технології : матеріали ІI Міжнародної конференції молодих вчених CCT-2011, 24–26 листопада 2011 року, Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 188–189. – (3-й Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Бібліографія: 3 назви.
Дата публікації: 2011
Видавництво: Видавництво Львівської політехніки
Теми: тонкі плівки
хімічне осадження
інверсійна вольтамперометрія
Короткий огляд (реферат): Розроблена проста й швидка методика визначення товщини напівпровідникових тонких плівок кадмій сульфіду з використанням методу інверсійної вольтамперометрії. Отримані результати мають добру сходимість з результатами еліпсометричних вимірювань, які є загальноприйнятими длятакого виду досліджень.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/20118
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Хімія та хімічні технології (CCT-2011). – 2011 р.

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
78-188-189.pdf239,7 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.