Please use this identifier to cite or link to this item: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/19495
Title: Багатозначні міри опору для автоматизованого метрологічного контролю складних систем
Authors: Яцук, Ю. В.
Янович, Р. Р.
Яцук, В. О.
Bibliographic description (Ukraine): Яцук Ю. В. Багатозначні міри опору для автоматизованого метрологічного контролю складних систем / Ю. В. Яцук, Р. Р. Янович, В. О. Яцук // Автоматика / Automatics – 2011 : матеріали XVIII Міжнародної конференції з автоматичного управління, 28–30 вересня 2011 року, Львів / Національна академія наук України [та інші]. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 228–229. – Бібліографія: 5 назв.
Issue Date: 2011
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Keywords: code-control resistance measure
resistance imitator
four terminal connection
Abstract: The many-valued resistance measure for automatic metrological checking complication system is described in this paper. That measure is built on resistance imitator of Ohm law basis. The high resolution, accuracy, distance transfer resistance possibilities is benefits of this resistance measure.
URI: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/19495
Content type: Article
Appears in Collections:Автоматика / Automatiсs. – 2011 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
124-Yatsuk-228-229.pdf233,7 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.