Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/18082
Назва: Визначення оптичних характеристик тонкоплівкових структур за інтерференційними спектрами відбиття
Автори: Данилов, А. Б.
Циган, О. В.
Бібліографічний опис: Данилов А. Б. Визначення оптичних характеристик тонкоплівкових структур за інтерференційними спектрами відбиття / А. Б. Данилов, О. В. Циган // Десята відкрита наукова конференція Інституту прикладної математики та фундаментальних наук (ІМФН) : збірник матеріалів та програма конференції PSC-IMFS-10, 17–18 травня 2012 року (Львів, Україна) / Національний університет “Львівська політехніка”, Інститут прикладної математики та фундаментальних наук. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – C. D.5.
Дата публікації: 2012
Видавництво: Видавництво Львівської політехніки
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/18082
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Десята відкрита наукова конференція Інституту прикладної математики та фундаментальних наук. – 2012 р.

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
97-Danylov-D5.pdf83,32 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.