Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/14665
Назва: Physical properties of thin ZnO layers
Автори: Bulanyi, M. F.
Kovalenko, O. V.
Omelchuk, A. R.
Polozov, K. Yu.
Skuratovskaya, O. V.
Бібліографічний опис: Physical properties of thin ZnO layers / M. F. Bulanyi, O. V. Kovalenko, A. R. Omelchuk, K. Yu. Polozov, O. V. Skuratovskaya // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 534. – Bibliography: 2 titles.
Дата публікації: 2012
Видавництво: Видавництво Львівської політехніки
Теми: zinc oxide
photoluminescence
x-ray diffraction analyzing
morphology of surface
Короткий огляд (реферат): It has been investigations the photoluminescence spectra, form of the surface and x-ray diffraction analyzing of ZnO epitaxial layers grown by VPE and MOCVD technology.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/14665
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET’2012). – 2012 р.

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
379.pdf198,3 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.