Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/14205
Назва: Devices and systems design reliability estimation
Автори: Nedostup, Leonid
Bobalo, Yuriy
Kiselychnyk, Myroslav
Lazko, Oxana
Бібліографічний опис: Devices and systems design reliability estimation / Leonid Nedostup, Yuriy Bobalo, Myroslav Kiselychnyk, Oxana Lazko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 45–46. – Bibliography: 3 titles.
Дата публікації: 2012
Видавництво: Видавництво Львівської політехніки
Теми: design reliability
stress-strength models
Gram-Charlier rows
Короткий огляд (реферат): The updated approach for devices and systems reliability estimation was proposed. An two-dimensional "Stress–strength" probability model based on application of Gram-Charlier and Edgeworth rows was obtained.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/14205
Тип вмісту : Article
Розташовується у зібраннях:Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET’2012). – 2012 р.

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
8.pdf113,01 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.