Please use this identifier to cite or link to this item: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/6244
Title: Estimation of reliability indices for symmetric ramified systems
Authors: Sydor, Andriy
Bibliographic description (Ukraine): Sydor A. Estimation of reliability indices for symmetric ramified systems / Andriy Sydor // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 107. – Bibliography: 7 titles.
Issue Date: 2010
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Keywords: ramified systems
symmetric systems
reliability indices
ageing elements
Abstract: Main reliability indices for unrestorable symmetric systems ramified to level 3 and with ageing output elements are examined in this paper. Models for the failure probability, the failure frequency and the failure rate are worked out in the case when the lifetime of ageing output elements is circumscribed by the Weibull distribution.
URI: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/6244
Content type: Article
Appears in Collections:Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET'2010). – 2010 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
74.pdf40,23 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.