Please use this identifier to cite or link to this item: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/25507
Title: Аналіз модуляційного режиму в атомно-силовій мікроскопії на основі кантелівера механічного типу
Authors: Дупак, Б.
Іванців, Р.
Кособуцький, П.
Bibliographic description (Ukraine): Дупак Б. Аналіз модуляційного режиму в атомно-силовій мікроскопії на основі кантелівера механічного типу / Б. Дупак, Р. Іванців, П. Кособуцький // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2013. – № 771 : Комп’ютерні науки та інформаційні технології. – С. 234–237. – Бібліографія: 7 назв.
Issue Date: 2013
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Keywords: кантелівер
атомно-силовий мікроскоп
зонд
мікроскоп
cantilever
atomic force microscope
probe
microscope
Abstract: Розглянуто та проаналізовано модуляційний режим під час сканування поверхні атомно-силовим мікроскопом на основі кантелівера механічного типу. Розвинений метод розрахунку сил Ван-дер-Ваальса для конфігурування взаємодії тіл. This paper is considered and analyzes the modulation mode by scanning the surface of an atomic force microscope based cantilever mechanical type. The developed method for calculating the forces Van der Vals to configure the interaction of bodies.
URI: http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/25507
Content type: Article
Appears in Collections:Комп'ютерні науки та інформаційні технології. – 2013. – №771

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
34-234-237.pdf316,98 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.